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局部放电测试仪测量
  

局部放电测试仪测量一般要求:

本条叙述了几种用于测虽局放参虽的莪本试验回路和测虽系统,并介绍了这呰回路和系统的工作原理。试验回路和测虽系统应按第5章规定进行校准.并应满足第7章中的规定。局部放电测试仪有关技术委员会还可以推狞用于特殊试品的特殊试验回路。只要可能,建议有关技术委员会用视在电荷作为被测参蛍,怛对特殊情况也可以使用別的参虽。如果有关技术委负会未作规定,则4.2条所述的任何试验回路以及4.3条中所规定的任何测虽系统均可使用。但任何情况下均应记录所采用测虽系统的最主要特性见第3章>。对于直流电ffi试验,参见第11章。4.2交流电班试验回路用于局放测蛰的大多数回路可以由阁la?阁Id所示的基本回路演变而来。阁2和阁3表示这些回路的一些变化,每个N路的组成主要有:a)试品,通常被认为是一个电容器Ca(参见附录O;b)耦合电容器Ck(应设计为低电感电容),或第二个试品Cal(类似于试品C\)。在规定的试验电ffi下(:\或(^,均应具有足够低的局放水平,以便对规定的局放值进行测M。如果一个测里系统能够区分并分別测M来自试品和耦合电容器中的局放,那么允许C:k或(:具有较髙的局放水平;c)带输入阻抗的测萤系统(对平衡回路,还需要第二个输入阻抗);d)背景噪声足够低的髙历电源(参见第9章和第10章>,以便在规定试验电ffi下对规定的局放值进行测虽;e>背景噪声足够低的商m连接(参见第9章和第1〇章),以便在规定试验电m下对规定的局放值进行测里:d有时在髙m端接入一个阻抗或者滤波器,以减小来_供电电源的背景噪声。33页注:对于图】?阁3所示的局放基木试验回路,其测里系统的耦合装罝也可放在高压端,即稱合装置与或(\交+。



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